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FD X07-014 Novembre 2006Métrologie - Optimisation des intervalles de confirmation métrologique des équipements de mesure
Titre : Métrologie - Optimisation des intervalles de confirmation métrologique des équipements de mesure
Indice de classement : X07-014
Statut : Fascicule de documentation
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Résumé
Le présent fascicule a pour objet de proposer une méthode d'optimisation et de justification des intervalles de confirmation métrologique des équipements de mesure couramment utilisés dans l'entreprise. Cette méthode suppose que les exigences des besoins ont été bien définies au préalable. Elle est fondée sur la prise en compte des éléments suivants : le rapport entre le coût de la confirmation et l'incidence économique résultant de l'utilisation d'un équipement de mesure hors spécification entre deux dates de confirmation (coût généré par le rappel de produits, dégradation de l'image de la marque, etc.) ; la contribution de l'équipement dans l'évaluation de l'incertitude sur les mesures effectuées dans les conditions réelles d'utilisation ; l'utilisation d'une théorie élémentaire strictement nécessaire à l'application de la méthode (le lecteur pourra consulter les différentes références normatives et bibliographiques pour des explications complémentaires sur les méthodes de calcul). Par ailleurs, il est important de noter que les opérateurs doivent être sensibilisés dans la démarche d'optimisation des intervalles de confirmation par la mise en place d'un processus de surveillance métrologique. La méthode décrite ci-dessous s'applique de préférence lorsque le parc comprend un nombre important d'équipements de mesure de nature homogène.
Sommaire
Introduction4
1 Domaine d'application5
2 Références normatives5
3 Termes et définitions5
4 Principes7
5 Méthode7
5.1 La périodicité d'étalonnage ou de vérification9
5.2 La surveillance des équipements14
6 Prise en compte de critères qualitatifs15
Annexe A (informative) Exemple de calculs pour les cas où l'incertitude d'étalonnage permet d'observer les dérives16
Annexe B (informative) Exemple de calculs pour le cas où l'incertitude d'étalonnage ne permet pas d'observer les dérives18
Annexe C (informative) Exemple de calculs pour le cas où la dérive n'est pas modélisable20
Annexe D (informative) Méthode OPPERET22
Bibliographie30
Documents cités dans cette norme
NF X07-001:1994, FD X07-007:2005, NF ENV 13005:1999, NF EN ISO 9000:2005, NF EN ISO 10012:2003, NF EN ISO 14253-1:1999, NF EN ISO/CEI 17025:2005
Descripteurs
metrologie, instrument de mesurage, mesurage, processus, qualite, controle metrologique, etalonnage, incertitude, verification periodique, erreur, intervalle de temps
Thème(s) ICS
| Code(s) | Thème(s) ICS |
|---|
| 17.020 | Métrologie et mesurage en général |
