IEC 62047-17:2015

mars 2015

Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs-microélectromécaniques - Partie 17 : méthode d'essai de renflement pour la mesure des propriétés mécaniques des couches minces

Informations générales

Normes internationales IEC

mars 2015

54 p.

IEC 62047-17:2015

31.080.99 Autres dispositifs à semi-conducteurs

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