NF EN 62132-3
Circuits intégrés - Méthode de mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3 : méthode d'injection de courant (BCI)
Le présent document décrit une méthode d'essai d'injection de courant (BCI) en vue de mesurer l'immunité des circuits intégrés (CI) en présence de perturbations RF conduites, comme par exemple celles résultant de perturbations RF rayonnées. Cette méthode s'applique uniquement aux CI connectés sur des liaisons externes à la carte, par exemple sur des torons. Cette méthode d'essai est utilisée pour injecter un courant RF sur un ou plusieurs fils. Ce document établit une base commune pour l'évaluation des dispositifs à semi-conducteurs utilisés dans les matériels fonctionnant dans des environnements soumis à des signaux électromagnétiques à radiofréquences intempestifs.
Le présent document décrit une méthode d'essai d'injection de courant (BCI) en vue de mesurer l'immunité des circuits intégrés (CI) en présence de perturbations RF conduites, comme par exemple celles résultant de perturbations RF rayonnées. Cette méthode s'applique uniquement aux CI connectés sur des liaisons externes à la carte, par exemple sur des torons. Cette méthode d'essai est utilisée pour injecter un courant RF sur un ou plusieurs fils. Ce document établit une base commune pour l'évaluation des dispositifs à semi-conducteurs utilisés dans les matériels fonctionnant dans des environnements soumis à des signaux électromagnétiques à radiofréquences intempestifs.
- AVANT-PROPOS2
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1 Domaine d'application et objet4
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2 Références normatives4
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3 Termes et définitions4
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4 Généralités4
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5 Conditions d'essai5
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5.1 Généralités5
- Figure 1 - Trajet du courant principal lors de l'utilisation du BCI5
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5.2 Matériel d'essai6
- Figure 2 - Schéma du montage d'essai BCI6
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5.3 Carte d'essai7
- Figure 3 - Exemple de carte d'essai, vue de dessus7
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6 Modalités d'essai8
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6.1 Champs électromagnétiques dangereux8
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6.2 Etalonnage de la limitation de puissance directe8
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6.3 Essai BCI9
- Figure 4 - Montage d'étalonnage9
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6.4 Procédure de caractérisation du dispositif d'essai BCI10
- Figure 5 - Logigramme de la procédure d'essai BCI pour chaque échelon de fréquence10
- Figure 6 - Montage d'essai de validation d'impédance10
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7 Rapport d'essai11
- Annexe A (informative) Exemples de niveaux d'essai et de choix de pas de fréquence12
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Tableau A.1 - Niveaux de sévérité d'essai12
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Tableau A.2 - Pas de fréquence linéaires13
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Tableau A.3 - Pas de fréquence logarithmiques13
- Annexe B (informative) Exemple de carte d'essai BCI et mise en oeuvre14
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Figure B.1 -Vue générale14
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Figure B.2 - Exemple de vue de dessus de la carte d'essai15
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Figure B.3 - Assemblage de carte d'essai15
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Figure B.4 - Carte d'essai et montage en cuivre16
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Figure B.5 - Exemple de montage de support de pinces non conducteur16
- Annexe C (informative) Exemple de carte d'essai RF et mise en oeuvre17
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Figure C.1 - Couplage RF compact aux accès différentiels du CI17
- Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes19
- Bibliographie18
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