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NF EN 60749-30/A1

NF EN 60749-30/A1

novembre 2011
Norme En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30 : préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité

Le présent document modifie les articles 2, 4 et 5 et la Bibliographie de la norme homologuée NF EN 60749-30 de juin 2005.

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NF EN 60749-30

NF EN 60749-30

juin 2005
Norme En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30 : préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité

Le présent document établit une procédure normalisée de détermination du préconditionnement pour les composants pour montage en surface (CMS) non hermétiques avant les essais de fiabilité.

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NF EN IEC 60749-30

NF EN IEC 60749-30

septembre 2020
Norme En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30 : préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité

Le présent document établit une procédure normalisée de détermination du préconditionnement pour les composants pour montage en surface (CMS) non hermétiques avant les essais de fiabilité. Cette méthode d'essai définit une refusion de préconditionnement pour les CMS à l'état solide non hermétiques représentative d'une opération de refusion de soudure multiple industrielle type.

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DIN EN 60749-30

DIN EN 60749-30

décembre 2011
Norme En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d.essais mécaniques et climatiques - Partie 30: Préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) - Version allemande EN 60749-30:2005 + A1:2011 / Attention: DIN EN 60749-30 (2005-06) reste valable avec la présente norme jusqu'à 2014-06-29.

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IEC 60749-30:2020

IEC 60749-30:2020

août 2020
Norme internationale En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30: Préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité

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NF EN 60749/A1

NF EN 60749/A1

février 2002
Norme Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

Le présent document donne la liste des méthodes d'essais applicables aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), parmi lesquelles on peut effectuer un choix.

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NF EN 60749-27/A1

NF EN 60749-27/A1

mars 2013
Norme En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27 : essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)

Le présent document modifie les articles 3 (définitions) et 5 (Exigences de forme d'onde de courant du Modèle de machine).

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NF EN 60749-23/A1
Norme En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23 : durée de vie en fonctionnement à haute température

Le présent document modifie les articles 7 et 9 de la norme homologuée NF EN 60749-23 de juillet 2004.

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NF EN 60749-19/A1

NF EN 60749-19/A1

août 2011
Norme En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 19 : résistance de la pastille au cisaillement

Le présent amendement modifie le domaine d.application (ajout d.une note).

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NF EN 60749-32/A1
Norme En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 32 : inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause extérieure d'inflammation)

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