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NF EN 62132-8

NF EN 62132-8

février 2013
Norme En vigueur
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8 : mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré

Le présent document définit une méthode de mesure de l'immunité d'un circuit intégré (CI) aux perturbations électromagnétiques rayonnées aux fréquences radioélectriques sur la gamme de fréquences comprise entre 150 kHz et 3 GHz. Le présent document entre dans le champ d'application de la Directive EMC n°2004/108/EC du 15/12/2004.

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DIN EN 62132-8

DIN EN 62132-8

mars 2013
Norme En vigueur
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré (IEC 62132-8:2012) - Version allemande EN 62132-8:2012 / Attention: Valable en conjointement avec DIN EN 62132-1 (2006-06)

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IEC 62132-8:2012

IEC 62132-8:2012

juillet 2012
Norme internationale En vigueur
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8 : mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré

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BS EN 62132-8:2012

BS EN 62132-8:2012

octobre 2012
Norme En vigueur
Circuits intégrés. Mesure de l'immunité électromagnétique. Mesure de l'immunité rayonnée. Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré

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NF EN 62132-2

NF EN 62132-2

novembre 2011
Norme En vigueur
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2 : mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande

Le présent document spécifie une méthode de mesure de l'immunité d'un circuit intégré aux perturbations électromagnétiques rayonnées aux fréquences radioélectriques. La gamme de fréquences de cette méthode est comprise entre 150 kHz et 1 GHz, ou dans les limites fixées par les caractéristiques de la cellule TEM. Le présent document doit être utilisé conjointement avec la NF EN 62132-1.

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NF EN 62132-1

NF EN 62132-1

mai 2016
Norme En vigueur
Circuits intégrés - Méthode de l'immunité électromagnétique - Partie 1 : conditions générales et définitions

Le présent document fournit des informations générales et des définitions relatives à la mesure de l'immunité électromagnétique des circuits intégrés (CI) aux perturbations conduites et rayonnées. Il définit également les conditions générales d'essai, l'équipement et le montage d'essai, ainsi que les méthodes d'essai et le contenu des rapports d'essai pour toutes les parties de la série NF EN 62132.

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NF EN 62132-4

NF EN 62132-4

septembre 2006
Norme En vigueur
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4 : méthode d'injection directe de puissance RF

Le présent document décrit une méthode de mesure de l'immunité des circuits intégrés (CI) en présence de perturbations RF conduites, comme par exemple celles résultant de perturbations RF rayonnées. Cette méthode garantit un degré élevé de répétabilité et une corrélation des mesures d'immunité.

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NF EN 62132-5

NF EN 62132-5

avril 2006
Norme En vigueur
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5 : méthode de la cage de Faraday sur banc de travail

Le présent docupent décrit une méthode de mesure pour quantifier l'immunité RF des circuits intégrés (CI) montés sur une carte d'essai normalisée ou dans leur application finale de carte d'essai (PCB), aux perturbations électromagnétiques conductrices.

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NF EN 62132-1

NF EN 62132-1

mai 2006
Norme Annulée
Circuits intégrés - Méthode de mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1 : conditions générales et définitions

Le présent document fournit des informations générales et des définitions sur la mesure de l'immunité électromagnétique conduite et rayonnée des circuits intégrés (CI) aux perturbations conduites et rayonnées. Il fournit également une description des conditions de mesure, de l'équipement d'essai et du montage d'essai ainsi que les méthodes d'essai et le contenu des rapports d'essai. Un tableau de comparaison des méthodes d'essai est compris dans l'Annexe A pour aider à la sélection de la ou des méthodes de mesure appropriées.

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NF EN 62132-3

NF EN 62132-3

janvier 2008
Norme Annulée
Circuits intégrés - Méthode de mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3 : méthode d'injection de courant (BCI)

Le présent document décrit une méthode d'essai d'injection de courant (BCI) en vue de mesurer l'immunité des circuits intégrés (CI) en présence de perturbations RF conduites, comme par exemple celles résultant de perturbations RF rayonnées. Cette méthode s'applique uniquement aux CI connectés sur des liaisons externes à la carte, par exemple sur des torons. Cette méthode d'essai est utilisée pour injecter un courant RF sur un ou plusieurs fils. Ce document établit une base commune pour l'évaluation des dispositifs à semi-conducteurs utilisés dans les matériels fonctionnant dans des environnements soumis à des signaux électromagnétiques à radiofréquences intempestifs.

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