Résultat pour votre recherche NF EN IEC 60747-5-5
Affiner la recherche 0
Trier par
Trier par
Résultats par pages
IEC 60747-5-7:2016

IEC 60747-5-7:2016

février 2016
Norme internationale En vigueur
Partie 5-7: Dispositifs optoélectroniques - Photodiodes et phototransistors

  Voir plus
IEC 60747-5-4:2022

IEC 60747-5-4:2022

avril 2022
Norme internationale En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-4 : optoelectronic devices - Semiconductor lasers

  Voir plus
IEC 60747-5-8:2019

IEC 60747-5-8:2019

novembre 2019
Norme internationale En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 5-8: Dispositifs optoélectroniques - Diodes électroluminescentes - Méthode d'essai des efficacités optoélectroniques des diodes électroluminescentes

  Voir plus
IEC 60747-5-13:2021
Norme internationale En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages

  Voir plus
IEC 60747-14-5:2010

IEC 60747-14-5:2010

février 2010
Norme internationale En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 14-5 : capteurs à semiconducteurs - Capteur de température à semiconducteurs à jonction PN

  Voir plus
BS EN IEC 60747-5-5:2020

BS EN IEC 60747-5-5:2020

septembre 2020
Norme En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs

  Voir plus
IEC 60747-5-15:2022

IEC 60747-5-15:2022

janvier 2022
Norme internationale En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy

This part of IEC 60747-5 specifies the measuring methods of flat-band voltage of single GaN-based light emitting diode (LED) die or package without phosphor, based on the electroreflectance (ER) spectroscopy. White LEDs for lighting applications are out of the scope of this part of IEC 60747-5.

  Voir plus
IEC 60747-5-11:2019

IEC 60747-5-11:2019

décembre 2019
Norme internationale En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes

  Voir plus
IEC 60747-5-9:2019

IEC 60747-5-9:2019

décembre 2019
Norme internationale En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-9: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence

  Voir plus
IEC 60747-5-10:2019

IEC 60747-5-10:2019

décembre 2019
Norme internationale En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point

  Voir plus

Vous ne trouvez pas ce que vous cherchez ?

Nos conseillers Afnor sont joignables

Contactez-nous