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IEC 60747-5-7:2016
février 2016
Norme internationale
En vigueur
Partie 5-7: Dispositifs optoélectroniques - Photodiodes et phototransistors
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IEC 60747-5-4:2022
avril 2022
Norme internationale
En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-4 : optoelectronic devices - Semiconductor lasers
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IEC 60747-5-8:2019
novembre 2019
Norme internationale
En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 5-8: Dispositifs optoélectroniques - Diodes électroluminescentes - Méthode d'essai des efficacités optoélectroniques des diodes électroluminescentes
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IEC 60747-5-13:2021
juin 2021
Norme internationale
En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages
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IEC 60747-14-5:2010
février 2010
Norme internationale
En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 14-5 : capteurs à semiconducteurs - Capteur de température à semiconducteurs à jonction PN
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IEC 60747-5-15:2022
janvier 2022
Norme internationale
En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy
This part of IEC 60747-5 specifies the measuring methods of flat-band voltage of single GaN-based light emitting diode (LED) die or package without phosphor, based on the electroreflectance (ER) spectroscopy. White LEDs for lighting applications are out of the scope of this part of IEC 60747-5.
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IEC 60747-5-11:2019
décembre 2019
Norme internationale
En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes
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IEC 60747-5-9:2019
décembre 2019
Norme internationale
En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-9: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence
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IEC 60747-5-10:2019
décembre 2019
Norme internationale
En vigueur
Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point
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