IEC 60749-20:2020

IEC 60749-20:2020

août 2020
Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 20: Résistance des CMS à boîtier plastique à l'effet combiné de l'humidité et de la chaleur de brasage

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

août 2020

Nombre de pages

55 p.

Référence

IEC 60749-20:2020

Codes ICS

31.080.01   Dispositifs à semi-conducteurs en général

Numéro de tirage

1
Normes remplacées (1)
IEC 60749-20:2008
décembre 2008
Norme internationale Annulée
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 20 : résistances des CMS à boîtier plastique à effet combiné de l'humidité et de la chaleur de brasage

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