IEC 60749-26:2018

janvier 2018

Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)

Informations complémentaires

Bilingue

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

janvier 2018

Nombre de pages

106 p.

Référence

IEC 60749-26:2018

Codes ICS

31.080.01 Dispositifs à semi-conducteurs en général

Numéro de tirage

Normes remplacées (1)

IEC 60749-26:2013

avril 2013

Norme internationale Annulée

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26 : essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)

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