IEC 60749-27:2006

juillet 2006

Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27 : essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)

Informations générales

Normes internationales IEC

juillet 2006

25 p.

IEC 60749-27:2006

31.080.01 Dispositifs à semi-conducteurs en général

1 - 18/09/2006

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