IEC 62374-1:2010

septembre 2010

Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Partie 1 : essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermétalliques

Informations générales

Normes internationales IEC

septembre 2010

32 p.

IEC 62374-1:2010

31.080.99 Autres dispositifs à semi-conducteurs

1 - 22/10/2010

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