IEC 62374:2007

mars 2007

Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour films diélectriques de grille

Informations générales

Normes internationales IEC

mars 2007

46 p.

IEC 62374:2007

31.080.99 Autres dispositifs à semi-conducteurs

1 - 14/05/2007

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