JIS C 5630-6

JIS C 5630-6

août 2011
Norme En vigueur

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials / Note: Approved 2021-06-21 JIS, 2016-10-20 JIS

Informations générales

Collections

Normes japonaises JIS

Date de publication

août 2011

Nombre de pages

12 p.

Référence

JIS C 5630-6

Codes ICS

31.080.01   Dispositifs à semi-conducteurs en général
31.220.01   Composants électromécaniques en général

Parenté internationale

IEC 62047-6:2009
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