NF EN 15063-1

NF EN 15063-1

février 2015
Norme En vigueur

Cuivre et alliages de cuivre - Détermination des éléments principaux et des impuretés par analyse spectrométrique de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (FRX) - Partie 1 : lignes directrices pour la méthode de routine

Le présent document fournit des lignes directrices sur les concepts et les modes opératoires d'étalonnage et d'analyse du cuivre et des alliages de cuivre par spectrométrie de fluorescence X à dispersion en longueur d'onde.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

février 2015

Nombre de pages

25 p.

Référence

NF EN 15063-1

Codes ICS

77.120.30   Cuivre et alliages de cuivre

Indice de classement

A08-701-1

Numéro de tirage

1

Parenté européenne

EN 15063-1:2014
Résumé
Cuivre et alliages de cuivre - Détermination des éléments principaux et des impuretés par analyse spectrométrique de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (FRX) - Partie 1 : lignes directrices pour la méthode de routine

Le présent document fournit des lignes directrices sur les concepts et les modes opératoires d'étalonnage et d'analyse du cuivre et des alliages de cuivre par spectrométrie de fluorescence X à dispersion en longueur d'onde.
Normes remplacées (1)
NF EN 15063-1
décembre 2006
Norme Annulée
Cuivre et alliages de cuivre - Détermination des éléments principaux et des impuretés par analyse spectrométrique de fluorescence X à dispersion en longueur d'onde (XFR) - Partie 1 : lignes directrices pour la méthode de routine

Le présent document fournit les lignes directrices sur les concepts et les procédures d'étalonnage et d'analyse du cuivre et des alliages de cuivre par fluorescence de rayons X.

Sommaire
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  • Avant-propos
    4
  • Introduction
    5
  • 1 Domaine d'application
    5
  • 2 Principe
    5
  • 3 Termes et définitions
    5
  • 4 Instrumentation
    7
  • 5 Échantillonnage et préparation des échantillons pour essai
    12
  • 6 Méthodes d'évaluation
    13
  • 7 Mode opératoire d'étalonnage
    15
  • 8 Validation de la méthode (exactitude et fidélité)
    17
  • 9 Critères de performance
    17
  • 10 Protection contre les rayonnements
    18
  • Annexe A (informative) Exemple de calcul de la concentration équivalente au bruit de fond, de la limite de détection, de la limite de quantification et de la limite inférieure de détection .
    19
  • Annexe B (informative) Exemple de calcul de l'interférence spectrale entre deux éléments
    21
  • Annexe C (informative) Exemple de critères de performance obtenus dans des conditions de répétabilité
    22
  • Bibliographie
    23
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