NF EN 60749-1

NF EN 60749-1

novembre 2003
Norme En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 1 : généralités

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés) et établit des dispositions communes à toutes les autres parties de la série.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

novembre 2003

Nombre de pages

10 p.

Référence

NF EN 60749-1

Codes ICS

31.080.01   Dispositifs à semi-conducteurs en général

Indice de classement

C96-022-1

Numéro de tirage

1 - 05/12/2003

Parenté internationale

IEC 60749-1:2002

Parenté européenne

EN 60749-1:2003
Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 1 : généralités

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés) et établit des dispositions communes à toutes les autres parties de la série.
Sommaire
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  • AVANT-PROPOS
    2
  • INTRODUCTION
    4
  • 1
    Domaine d'application 5
  • 2
    Références normatives 5
  • 3
    Termes, définitions et symboles littéraux 5
  • 4
    Conditions atmosphériques normales 5
  • 5
    Mesures électriques 6
  • 6
    Utilisation de dispositifs défectueux électriquement 6
  • Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
    8
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