NF EN 60749-34

décembre 2005

Norme Annulée

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 34 : cycles en puissance

Le présent document détermine la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes

Informations complémentaires

Édition bilingue FR,EN

Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

décembre 2005

Nombre de pages

18 p.

Référence

NF EN 60749-34

Codes ICS

31.080.01 Dispositifs à semi-conducteurs en général

Indice de classement

C96-022-34

Numéro de tirage

1 - 23/12/2005

Parenté internationale

IEC 60749-34:2004

Parenté européenne

EN 60749-34:2004

Résumé

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 34 : cycles en puissance

Le présent document détermine la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes

Norme remplacée par (1)

NF EN 60749-34

mai 2011

Norme En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 34 : cycles en puissance

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