NF EN 61183

NF EN 61183

décembre 1994
Norme En vigueur

Électroacoustique - Étalonnage des sonomètres sous incidence aléatoire et en champ diffus

Ce document décrit une méthode d'étalonnage en champ libre pour déterminer les niveaux de sensibilité sous incidence aléatoire des sonomètres et en champ diffus. Les résultats dépendent des parties du sonomètre exposées au champ acoustique.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

décembre 1994

Nombre de pages

24 p.

Référence

NF EN 61183

Codes ICS

17.140.50   Électroacoustique

Indice de classement

S31-011

Numéro de tirage

1 - 01/12/1994

Parenté internationale

IEC 61183:1994

Parenté européenne

EN 61183:1994
Résumé
Électroacoustique - Étalonnage des sonomètres sous incidence aléatoire et en champ diffus

Ce document décrit une méthode d'étalonnage en champ libre pour déterminer les niveaux de sensibilité sous incidence aléatoire des sonomètres et en champ diffus. Les résultats dépendent des parties du sonomètre exposées au champ acoustique.
Sommaire
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  • AVANT-PROPOS
    2
  • 1 Domaine d'application
    4
  • 2 Références normatives
    4
  • 3 Définitions
    5
  • 4 Méthode d'étalonnage à partir de mesures en champ libre
    6
  • Figure 1 Système de coordonnées de référence pour la détermination du niveau de sensibilité sous incidence aléatoire, à partir des mesures en champ libre
    7
  • Figure 2 Système de coordonnées de référence pour la détermination pratique du niveau de sensibilité sous incidence aléatoire, à partir des mesures en champ libre
    8
  • 5 Méthode d'étalonnage à partir de mesures en champ diffus
    9
  • Annexe A Méthode pratique d'étalonnage à partir de mesures en champ libre
    11
  • FigureA.1 Sonomètre avec son microphone positionné au centre d'une sphère et la direction de référence du son incident alignée avec l'axe des X
    12
  • FigureA.2 Sonomètre en essai monté sur une table tournante pour obtenir l'incidence acoustique suivant différentes directions dans le plan des X-Y
    12
  • FigureA.3 Méthode simulant la rotation dans le plan des X-Z par une rotation de 90° du sonomètre en essai autour d'un axe coïncidant avec sa direction de référence suivie d'une rotation dans le plan des X-Y comme dans la figure A.2
    13
  • Tableau A.1 Facteurs d'ajustement K(phi) pour le calcul du niveau de sensibilité sous incidence aléatoire
    14
  • Annexe B Méthode pratique d'étalonnage à partir de mesures en champ diffus
    18
  • Tableau B.1 Caractéristiques du microphone de modèle LS2aP/LS2F
    20
  • Annexe ZA Autres publications internationales citées dans la présente norme avec les références des publications européennes correspondantes
    22
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