NF ISO 15529

<p> La présente Norme internationale s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les caméras à CCD et les matrices de CCD elles-mêmes.Bien qu'un certain nombre de méthodes de mesure soient décrites ci-après, le présent document n'a pas vocation d'exclure les autres méthodes si tant est qu'elles fournissent des résultats similaires et qu'elles correspondent aux définitions générales et aux lignes directrices visant à mesurer la MTF conformément à l'ISO 9334 et l'ISO 9335.L'exploitation de la mesure de la répartition des éclairements dans l'image d'un «bord de plage» (ESF), plutôt que de la répartition des éclairements dans l'image d'une ligne (LSF), est mentionnée comme solution de départ optionnelle pour déterminer l'OTF/MTF d'un système de formation d'image. </p>

<p>L'ISO 15529:2010 décrit les principales MTF associées à un système de formation d'image ainsi que les conditions connexes et expose plusieurs méthodes de mesure possibles de ces MTF. Elle définit également une mesure pour le repliement du spectre lié à la formation d'image avec ce type de système.</p> <p>L'ISO 15529:2010 s'applique particulièrement aux dispositifs d'imagerie électroniques tels que les appareils photonumériques et les caméras vidéo numériques, et les groupements de détecteurs qu'ils renferment.</p>