NF ISO 15632

NF ISO 15632

décembre 2012
Norme Annulée

Analyse par microfaisceaux - Paramètres de performance instrumentale sélectionnés pour la spécification et le contrôle des spectromètres X à sélection d.énergie utilisés en microanalyse par sonde à électrons

La présente Norme internationale définit les paramètres les plus importants qui caractérisent un spectromètre X à sélection d'énergie consistant en un détecteur semi-conducteur, un préamplificateur et une unité de traitement des signaux en tant que parties essentielles. La présente Norme internationale est applicable uniquement aux spectromètres ayant des détecteurs semi-conducteurs fonctionnant selon le principe de l'ionisation à l'état solide. La présente Norme internationale spécifie les exigences minimales, ainsi que la façon appropriée de contrôler les paramètres de performance de l'appareil, pour de tels spectromètres reliés à un microscope électronique à balayage (MEB) ou à une microsonde électronique (EPMA). Le mode opératoire utilisé pour l'analyse effective est décrit dans l'ISO 22309[2] et dans l'ASTM E1508[3] et ne relève pas du domaine d'application de la présente Norme internationale.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

décembre 2012

Nombre de pages

18 p.

Référence

NF ISO 15632

Codes ICS

37.020   Matériel optique
71.040.99   Autres normes relatives à la chimie analytique

Indice de classement

X21-008

Numéro de tirage

1 - 14/12/2012

Parenté internationale

ISO 15632:2012
Résumé
Analyse par microfaisceaux - Paramètres de performance instrumentale sélectionnés pour la spécification et le contrôle des spectromètres X à sélection d.énergie utilisés en microanalyse par sonde à électrons

La présente Norme internationale définit les paramètres les plus importants qui caractérisent un spectromètre X à sélection d'énergie consistant en un détecteur semi-conducteur, un préamplificateur et une unité de traitement des signaux en tant que parties essentielles. La présente Norme internationale est applicable uniquement aux spectromètres ayant des détecteurs semi-conducteurs fonctionnant selon le principe de l'ionisation à l'état solide. La présente Norme internationale spécifie les exigences minimales, ainsi que la façon appropriée de contrôler les paramètres de performance de l'appareil, pour de tels spectromètres reliés à un microscope électronique à balayage (MEB) ou à une microsonde électronique (EPMA). Le mode opératoire utilisé pour l'analyse effective est décrit dans l'ISO 22309[2] et dans l'ASTM E1508[3] et ne relève pas du domaine d'application de la présente Norme internationale.

Normes remplacées (1)
NF ISO 15632
décembre 2006
Norme Annulée
Analyse par microfaisceaux - Spécifications instrumentales pour spectromètres de rayons X à sélection d'énergie avec détecteurs à semi-conducteurs

<p>L'ISO 15632:2002 définit les paramètres les plus importants qui caractérisent un spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS) consistant en un détecteur semi-conducteur, un préamplificateur et une unité de traitement des signaux en tant que parties essentielles. Elle s'applique uniquement aux spectromètres ayant des détecteurs semi-conducteurs fonctionnant selon le principe de l'ionisation à l'état solide. Elle définit les exigences minimales pour de tels spectromètres reliés à un microanalyseur à sonde électronique (EPMA) ou à un microscope électronique à balayage (MEB). La réalisation de l'analyse se situe en dehors de la portée de l'ISO 15632:2002.</p>

Sommaire
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  • Avant-propos
    iv
  • Introduction
    v
  • 1 Domaine d'application
    1
  • 2 Référence normatives
    1
  • 3 Termes et définitions
    1
  • 4 Exigences
    3
  • 4.1 Description générale
    3
  • 4.2 Résolution en énergie
    3
  • 4.3 Temps mort
    4
  • 4.4 Rapport pic sur fond
    4
  • 4.5 Dépendance du rendement de détection instrumental en fonction de l'énergie
    4
  • 5 Contrôle des autres paramètres de performance
    4
  • 5.1 Généralités
    4
  • 5.2 Stabilité de l'échelle d'énergie et de la résolution
    5
  • 5.3 Effets d'empilement
    5
  • 5.4 Contrôle périodique de la performance du spectromètre
    5
  • Annexe A (normative) Mesure des largeurs de raie (FWHM) pour déterminer la résolution en énergie du spectromètre
    6
  • Annexe B (normative) Détermination du rapport L/K comme mesure représentant la dépendance énergétique du rendement de la détection instrumentale
    10
  • Bibliographie
    12
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