XP CR 10299

XP CR 10299

novembre 1999
Norme Annulée

Lignes directrices pour la préparation de méthodes de routine normalisées utilisant la spectrométrie de fluorescence X dispersive en longueur d'onde

Le présent document donne des lignes directrices et décrit des concepts et des modes opératoires pour l'étalonnage et l'analyse utilisant la spectrométrie de fluorescence X. Ces lignes directrices sont principalement destinées à servir à l'analyse d'alliages de métaux mais elles sont également applicables à d'autres matériaux bien que les techniques des échantillons diffèrent.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

novembre 1999

Nombre de pages

21 p.

Référence

XP CR 10299

Codes ICS

77.040.30   Analyse chimique des métaux

Indice de classement

A06-379

Numéro de tirage

2 - 01/12/1999

Parenté européenne

CR 10299:1998
Résumé
Lignes directrices pour la préparation de méthodes de routine normalisées utilisant la spectrométrie de fluorescence X dispersive en longueur d'onde

Le présent document donne des lignes directrices et décrit des concepts et des modes opératoires pour l'étalonnage et l'analyse utilisant la spectrométrie de fluorescence X. Ces lignes directrices sont principalement destinées à servir à l'analyse d'alliages de métaux mais elles sont également applicables à d'autres matériaux bien que les techniques des échantillons diffèrent.
Norme remplacée par (1)
FD CEN/TR 10377
octobre 2023
Fascicule de documentation En vigueur
Lignes directrices pour la préparation de méthodes de routine utilisant la spectrométrie de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde

Sommaire
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  • 1 Objet des présentes lignes directrices
    3
  • 2 Résumé de la méthode
    3
  • 3 Terminologie - Définitions
    3
  • 4 Instruments
    4
  • 4.1 Tubes
    6
  • 4.2 Système de vide
    7
  • 4.3 Dispositif de rotation
    7
  • 4.4 Filtres
    7
  • 4.5 Collimateurs ou fentes
    7
  • 4.6 Cristaux
    7
  • 4.7 Détecteurs
    7
  • 4.8 Instruments séquentiels - simultanés
    8
  • 5 Échantillonnage et préparation des échantillons
    9
  • 6 Méthodes d'évaluation
    9
  • 6.1 Correction du temps mort
    9
  • 6.2 Correction de fond
    9
  • 6.3 Interférence de raies, modèles de correction
    10
  • 6.4 Effets inter-éléments, modèles de correction
    10
  • 7 Stratégie d'étalonnage
    11
  • 7.1 Optimisation de 2Q
    11
  • 7.2 Sélection des conditions optimales pour les détecteurs
    11
  • 7.3 Sélection d'une tension et d'un courant de tube optimaux
    11
  • 7.4 Sélection des durées minimales de mesurage
    11
  • 7.5 Sélection des échantillons d'étalonnage
    11
  • 7.6 Sélection des échantillons d'ajustage
    12
  • 7.7 Mesurage des échantillons d'étalonnage
    12
  • 7.8 Calculs de régression
    12
  • 8 Validation de la méthode (exactitude et fidélité)
    12
  • 9 Critères de performance
    13
  • 9.1 Essai de fidélité
    13
  • 9.2 Surveillance de la performance
    13
  • 9.3 Maintenance
    13
  • 10 Radioprotection
    14
  • Annexe A (normative) Bibliographie
    15
  • Annexe B (normative) Exemple de calcul de la Concentration Équivalente de Fond (BEC), de la Limite de Détection (LOD), de la Limite de Quantification (LOQ) et de la Limite Inférieure de Détection (LLD)
    16
  • Annexe C (normative) Exemple de calcul d'Interférence de raie du molybdène sur le phosphore
    17
  • Annexe D (normative) Exemple de critères de performance, essai de précision
    18
  • Annexe E (normative) Exemple de deux diagrammes SPC informatisés
    19
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