XP ISO/TS 10867

XP ISO/TS 10867

février 2011
Norme Annulée

Nanotechnologies - Caractérisation de nanotubes de carbone monofeuillet en utilisant la spectroscopie de photoluminescence dans le proche infra-rouge

L'ISO/TS 10867:2010 fournit des lignes directrices pour la caractérisation des nanotubes de carbone mono feuillet (SWCNTs) en utilisant la spectroscopie de photoluminescence (PL) dans le proche infrarouge (NIR). L'ISO/TS 10867:2010 fournit une méthode pour la détermination des indices chiraux et la mesure des intensités intégrées relatives des pics de PL des SWCNTs semi-conducteurs présents dans un échantillon. La méthode peut être étendue pour estimer les concentrations massiques relatives des SWCNT semi‑conducteurs présents dans un échantillon à partir des valeurs mesurées des intensités intégrées des pics de PL et de la connaissance de leur section efficace de photoluminescence.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

février 2011

Nombre de pages

23 p.

Référence

XP ISO/TS 10867

Codes ICS

07.120   Nanotechnologies

Indice de classement

T16-200

Numéro de tirage

1 - 16/02/2011

Parenté internationale

Résumé
Nanotechnologies - Caractérisation de nanotubes de carbone monofeuillet en utilisant la spectroscopie de photoluminescence dans le proche infra-rouge

L'ISO/TS 10867:2010 fournit des lignes directrices pour la caractérisation des nanotubes de carbone mono feuillet (SWCNTs) en utilisant la spectroscopie de photoluminescence (PL) dans le proche infrarouge (NIR).

L'ISO/TS 10867:2010 fournit une méthode pour la détermination des indices chiraux et la mesure des intensités intégrées relatives des pics de PL des SWCNTs semi-conducteurs présents dans un échantillon.

La méthode peut être étendue pour estimer les concentrations massiques relatives des SWCNT semi‑conducteurs présents dans un échantillon à partir des valeurs mesurées des intensités intégrées des pics de PL et de la connaissance de leur section efficace de photoluminescence.

Norme remplacée par (1)
XP ISO/TS 10867
juillet 2020
Norme En vigueur
Nanotechnologies - Caractérisation de nanotubes de carbone monofeuillet en utilisant la spectroscopie de photoluminescence dans le proche infra-rouge

<p>Le présent document fournit des lignes directrices pour la caractérisation des nanotubes de carbone monofeuillet (SWCNT) en utilisant la spectroscopie de photoluminescence (PL) dans le proche infrarouge (NIR).</p> <p>Il fournit une méthode pour la détermination des indices chiraux des SWCNT semi-conducteurs présents dans un échantillon et la mesure des intensités intégrées relatives des pics de PL.</p> <p>La méthode peut être étendue pour estimer les concentrations massiques relatives des SWCNT semi-conducteurs présents dans un échantillon à partir des valeurs mesurées des intensités intégrées des pics de PL et de la connaissance de leur section efficace de PL.</p>

Sommaire
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  • Avant-propos
    iv
  • Introduction
    v
  • 1 Domaine d'application
    1
  • 2 Références normatives
    1
  • 3 Termes et définitions
    1
  • 4 Principes de la photoluminescence dans les nanotubes de carbone mono feuillet (SWCNT)
    2
  • 4.1 Structure des SWCNT
    2
  • 4.2 Structure de bande et pics de photoluminescence (PL)
    3
  • 4.3 Effets des excitons
    5
  • 5 Appareillage pour la spectroscopie de photoluminescence dans le proche infrarouge (NIR-PL)
    5
  • 5.1 Spectromètre NIR-PL
    5
  • 5.2 Source lumineuse
    5
  • 6 Méthodes de préparation des échantillons
    6
  • 6.1 Préparation pour la mesure d'une dispersion de SWCNT dans D20
    6
  • 6.2 Préparation pour la mesure d'un film solide à partir d'une dispersion de SWCNT
    6
  • 7 Modes opératoires de mesure
    7
  • 8 Analyse des données et interprétation des résultats
    7
  • 8.1 Règles empiriques pour la détermination de la structure
    7
  • 8.2 Détermination des indices chiraux des SWCNT semi-conducteurs présents dans un échantillon
    8
  • 9 Incertitudes
    9
  • 10 Rapport d'essai
    9
  • Annexe A (informative) Études de cas
    10
  • Bibliographie
    17
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