NF EN 60444-2

NF EN 60444-2

July 2001
Standard Current

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2 : phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units

Le présent document décrit une méthode de mesure de la capacité dynamique des quartz dans une gamme de fréquences de 1 MHz à 125 MHz avec une erreur totale de mesure de l'ordre de 5%.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

July 2001

Number of pages

14 p.

Reference

NF EN 60444-2

ICS Codes

31.140   Piezoelectric devices

Classification index

C93-622

Print number

1 - 10/08/2001

International kinship

IEC 60444-2:1980

European kinship

EN 60444-2:1997
Sumary
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2 : phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units

Le présent document décrit une méthode de mesure de la capacité dynamique des quartz dans une gamme de fréquences de 1 MHz à 125 MHz avec une erreur totale de mesure de l'ordre de 5%.
Table of contents
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  • Avant-propos
    2
  • 1 Domaine d'application
    4
  • 2 Principe de mesure
    4
  • 3 Circuit de mesure
    4
  • 4 Méthode de mesure
    4
  • 5 Erreurs de mesure
    5
  • 6 Autres méthodes de mesure
    6
  • Annexe A
    7
  • Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
    12
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