NF EN 60749-1

NF EN 60749-1

November 2003
Standard Current

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : general

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés) et établit des dispositions communes à toutes les autres parties de la série.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

November 2003

Number of pages

10 p.

Reference

NF EN 60749-1

ICS Codes

31.080.01   Semiconductor devices in general

Classification index

C96-022-1

Print number

1 - 05/12/2003

International kinship

IEC 60749-1:2002

European kinship

EN 60749-1:2003
Sumary
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : general

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés) et établit des dispositions communes à toutes les autres parties de la série.
Table of contents
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  • AVANT-PROPOS
    2
  • INTRODUCTION
    4
  • 1
    Domaine d'application 5
  • 2
    Références normatives 5
  • 3
    Termes, définitions et symboles littéraux 5
  • 4
    Conditions atmosphériques normales 5
  • 5
    Mesures électriques 6
  • 6
    Utilisation de dispositifs défectueux électriquement 6
  • Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
    8
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