NF EN 61967-2

NF EN 61967-2

February 2006
Standard Current

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2 : measurement of radiated emissions, TEM-cell and wideband TEM-cell method

Le présent document définit une méthode de mesure du rayonnement électromagnétique provenant d'un circuit intégré.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

February 2006

Number of pages

47 p.

Reference

NF EN 61967-2

ICS Codes

31.200   Integrated circuits. Microelectronics
33.100.10   Emission

Classification index

C96-260-2

Print number

1

International kinship

IEC 61967-2:2005

European kinship

EN 61967-2:2005
Sumary
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2 : measurement of radiated emissions, TEM-cell and wideband TEM-cell method

Le présent document définit une méthode de mesure du rayonnement électromagnétique provenant d'un circuit intégré.
Table of contents
  • AVANT-PROPOS
    2
  • Domaine d'application
    5
  • 2
    Références normatives 5
  • 3
    Termes et définitions 6
  • 4 Généralités
    6
  • 5
    Conditions d'essai 6
  • 5.1 Généralités
    6
  • 5.2
    Tension d'alimentation 6
  • 5.3
    Gamme de fréquences 6
  • 6
    Equipement d'essai 6
  • 6.1 Généralités
    6
  • 6.2
    Blindage 6
  • 6.3
    Appareil de mesure RF 6
  • 6.4
    Préamplificateur 7
  • 6.5
    Cellule TEM 7
  • 6.6
    Cellule TEM/GTEM à large bande 7
  • 6.7
    Terminaison de 50 oméga 7
  • 6.8
    Gain du système 7
  • 7
    Montage d'essai 7
  • 7.1 Généralités
    7
  • 7.2
    Configuration d'essai 7
  • 7.3
    PCB d'essai 8
  • 8
    Procédure d'essai 11
  • 8.1
    Généralités 11
  • 8.2
    Conditions ambiantes 11
  • 8.3
    Vérification opérationnelle du DEE 11
  • 8.4
    Mesure des émissions du DEE 11
  • 9
    Rapport d'essai 12
  • 9.1
    Généralités 12
  • 9.2
    Conditions de mesure 12
  • 10
    Niveaux de référence des émissions du CI 12
  • Annexe A (informative) Exemple de formulaire de vérification de l'étalonnage et du montage
    13
  • Annexe B (informative) Descriptions de la cellule TEM et de la cellule TEM à large bande
    14
  • B.1
    Cellule TEM 14
  • B.2
    Cellule TEM à large bande 14
  • Annexe C (informative) Calcul du moment de dipôle à partir des données mesurées
    15
  • C.1
    Généralités 15
  • C.2
    Calcul du moment de dipôle 15
  • Annexe D (informative) Spécification des données d'émission
    17
  • D.1
    Généralités 17
  • D.2
    Spécification des niveaux d'émission 17
  • D.3
    Présentation des résultats 17
  • D.4
    Exemples 17
  • Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
    22
  • Bibliographie
    20
  • Figure 1 - Montage d'essai de la cellule TEM
    8
  • Figure 2 - Montage d'essai de la cellule GTEM
    8
  • Figure 3 - Carte de circuit imprimé d'essai de CI
    10
  • Figure D.1 - Niveaux de caractérisation des émissions
    18
  • Figure D.2 - Niveau maximal d'émissions G8f
    19
  • Tableau 1 - Recommandations des charges de broches
    9
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