IEC 61788-24:2018
Supraconductivité - Partie 24: Mesurage du courant critique - Courant critique retenu après double flexion à température ambiante des fils supraconducteurs Bi-2223 avec gaine Ag
IEC 61788-24:2018 décrit une méthode d?essai permettant de déterminer le courant critique retenu après double flexion à température ambiante de fils supraconducteurs rectilignes courts Bi-2223 avec gaine Ag et/ou en alliage d?Ag, ayant la forme d?une bande plate ou carrée et contenant des noyaux simples ou plusieurs noyaux d?oxydes. Les fils peuvent être stratifiés avec des bandes en alliage de cuivre, en acier inoxydable ou en alliage de Ni.La méthode d?essai est destinée à être utilisée avec des supraconducteurs ayant un courant critique inférieur à 300 A et une valeur n supérieure à 5.
IEC 61788-24:2018 décrit une méthode d?essai permettant de déterminer le courant critique retenu après double flexion à température ambiante de fils supraconducteurs rectilignes courts Bi-2223 avec gaine Ag et/ou en alliage d?Ag, ayant la forme d?une bande plate ou carrée et contenant des noyaux simples ou plusieurs noyaux d?oxydes. Les fils peuvent être stratifiés avec des bandes en alliage de cuivre, en acier inoxydable ou en alliage de Ni.
La méthode d?essai est destinée à être utilisée avec des supraconducteurs ayant un courant critique inférieur à 300 A et une valeur n supérieure à 5.
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