IEC 62047-13:2012

février 2012

Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 13 : méthodes d'essais de types courbure et cisaillement de mesure de la résistance d'adhérence pour les structures MEMS

Informations générales

Normes internationales IEC

février 2012

30 p.

IEC 62047-13:2012

31.080.99 Autres dispositifs à semi-conducteurs

1 - 09/03/2012

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