IEC 62132-2:2010

IEC 62132-2:2010

mars 2010
Norme internationale En vigueur

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité electromagnétique - Partie 2 : mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande

Informations complémentaires
Doit être lue conjointement avec la IEC 62132-1
Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

mars 2010

Nombre de pages

49 p.

Référence

IEC 62132-2:2010

Codes ICS

31.200   Circuits intégrés. Micro-électronique

Numéro de tirage

1 - 22/04/2010
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