NF EN 60749-32

novembre 2003

Norme En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 32 : inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause extérieure d'inflammation)

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu en raison d'une chaleur extérieure. L'essai est pratiqué avec un brûleur-aiguille, simulant l'effet de petites flammes pouvant résulter de mauvaises conditions apparaissant dans l'équipement contenant le dispositif.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

novembre 2003

Nombre de pages

7 p.

Référence

NF EN 60749-32

Codes ICS

31.080.01 Dispositifs à semi-conducteurs en général

Indice de classement

C96-022-32

Numéro de tirage

1 - 05/12/2003

Parenté internationale

IEC 60749-32:2002

Parenté européenne

EN 60749-32:2003

Résumé

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 32 : inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause extérieure d'inflammation)

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu en raison d'une chaleur extérieure. L'essai est pratiqué avec un brûleur-aiguille, simulant l'effet de petites flammes pouvant résulter de mauvaises conditions apparaissant dans l'équipement contenant le dispositif.

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