NF EN 61788-15
NF EN 61788-15

NF EN 61788-15

mai 2012
Norme En vigueur

Supraconductivité - Partie 15 : mesures de caractéristiques électroniques - Impédance de surface intrinsèque de films supraconducteurs aux fréquences micro-ondes

Le présent document décrit les mesures de l'impédance de surface intrinsèque (Zs) des films HTS aux fréquences micro-ondes par une méthode modifiée du résonateur diélectriques en mode deux résonances. L'objet de la mesure est d'obtenir la dépendance de l'impédance intrinsèque Zs vis-à-vis de la température à la fréquence de résonance f0.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de parution

juin 2012

Nombre de pages

51 p.

Référence

NF EN 61788-15

Codes ICS

29.050   Supraconductivité et matériaux conducteurs
29.060.10   Fils

Indice de classement

C31-888-15

Numéro de tirage

1 - 04/06/2012

Parenté internationale

Parenté européenne

EN 61788-15:2011
Résumé
Supraconductivité - Partie 15 : mesures de caractéristiques électroniques - Impédance de surface intrinsèque de films supraconducteurs aux fréquences micro-ondes

Le présent document décrit les mesures de l'impédance de surface intrinsèque (Zs) des films HTS aux fréquences micro-ondes par une méthode modifiée du résonateur diélectriques en mode deux résonances. L'objet de la mesure est d'obtenir la dépendance de l'impédance intrinsèque Zs vis-à-vis de la température à la fréquence de résonance f0.
Sommaire
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  • Avant-propos
    2
  • 1 Domaine d'application
    8
  • 2 Références normatives
    8
  • 3 Termes, définitions et concepts généraux
    8
  • 3.1 Termes et définitions
    8
  • 3.2 Concepts généraux
    9
  • 4 Exigences
    9
  • 5 Appareillage
    10
  • 5.1 Équipement de mesure
    10
  • 5.2 Appareillage de mesure
    10
  • 5.3 Tiges diélectriques
    14
  • 5.4 Films supraconducteurs et cavité de cuivre
    15
  • 6 Procédure de mesure
    15
  • 6.1 Installation
    15
  • 6.2 Mesure du niveau de référence
    15
  • 6.3 Mesure de la résistance RS du cuivre de haute pureté sans oxygène
    16
  • 6.4 Détermination de la résistance efficace RS des films supraconducteurs et de tan des tiges diélectriques normalisées
    18
  • 6.5 Détermination de la profondeur de pénétration
    19
  • 6.6 Détermination de l'impédance de surface intrinsèque
    21
  • 7 Incertitude de la méthode d'essai
    22
  • 7.1 Mesure du facteur de qualité à l'état déchargé
    22
  • 7.2 Mesure de la tangente de perte
    22
  • 7.3 Température
    23
  • 7.4 Structure du support de l'éprouvette et du porte-éprouvette
    23
  • 8 Rapport d'essai
    23
  • 8.1 Identification de l'éprouvette d'essai
    23
  • 8.2 Rapport relatif aux valeurs de l'impédance intrinsèque ZS
    24
  • 8.3 Rapport relatif aux conditions d'essai
    24
  • ANNEXE A (informative) Informations complémentaires relatives aux Articles 1 à 8
    25
  • A.1 Concernant le Domaine d'application
    25
  • A.2 Exigences
    26
  • A.3 Théorie et procédure de mesure relatives à l'impédance de surface intrinsèque
    27
  • A.4 Dimensions de la tige de saphir normalisée
    35
  • A.5 Dimensions du résonateur du type fermé
    35
  • A.6 Résultats d'essai
    36
  • A.7 Incertitude des résultats d'essai
    40
  • A.8 Documents de référence de l'Annexe A
    41
  • ANNEXE B (informative) Considérations relatives à l'incertitude
    43
  • B.1 Vue d'ensemble
    43
  • B.2 Définitions
    43
  • B.3 Considération relative au concept d'incertitude
    44
  • B.4 Exemple d'évaluation de l'incertitude pour les étalons du TC/CE 90
    45
  • B.5 Documents de référence de l'Annexe B
    46
  • Annexe ZA (normative) : Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
    47
  • Bibliographie
    48
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