NF EN 623-5

NF EN 623-5

novembre 2009
Norme Annulée

Céramiques techniques avancées - Céramiques monolithiques - Propriétés générales et texturales - Partie 5 : détermination de la fraction volumique de phase par évaluation des microphotographies

Le présent document spécifie une méthode manuelle de mesurage, permettant de déterminer la fraction volumique des principales phases, dans les céramiques techniques avancées. Certains utilisateurs du présent document peuvent souhaiter appliquer l'analyse d'image automatique ou semi-automatique, aux microphotographies ou aux images microstructurales capturées directement. Ceci n'entre pas actuellement dans le cadre du présent document, mais certaines directives figurent à l'Annexe C.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

novembre 2009

Nombre de pages

21 p.

Référence

NF EN 623-5

Codes ICS

81.060.30   Céramiques techniques avancées

Indice de classement

B41-202-5

Numéro de tirage

1 - 15/10/2009

Parenté européenne

EN 623-5:2009
Résumé
Céramiques techniques avancées - Céramiques monolithiques - Propriétés générales et texturales - Partie 5 : détermination de la fraction volumique de phase par évaluation des microphotographies

Le présent document spécifie une méthode manuelle de mesurage, permettant de déterminer la fraction volumique des principales phases, dans les céramiques techniques avancées. Certains utilisateurs du présent document peuvent souhaiter appliquer l'analyse d'image automatique ou semi-automatique, aux microphotographies ou aux images microstructurales capturées directement. Ceci n'entre pas actuellement dans le cadre du présent document, mais certaines directives figurent à l'Annexe C.
Norme remplacée par (1)
NF EN ISO 13383-2
juin 2016
Norme En vigueur
Céramiques techniques - Caractérisation microstructurale - Partie 2 : détermination de la fraction volumique des phases par évaluation des micrographies

<p>L'ISO 13383-2:2012 spécifie une méthode manuelle de mesurage en vue de la détermination de la fraction volumique des phases principales de céramiques techniques en utilisant des micrographies de sections polies et soumises à une attaque, en les recouvrant d'un quadrillage carré et en comptant le nombre d'intersections situées au-dessus de chaque phase.</p> <p>La méthode s'applique aux céramiques comportant une ou plusieurs phases secondaires distinctes, telles que celles rencontrées dans Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/ZrO<sub>2</sub>, Si/SiC ou Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/SiC<sub>w</sub>.</p> <p>Si le matériau d'essai contient des pores discrets, ceux-ci doivent être traités comme une phase secondaire pour les besoins de la présente méthode, à condition qu'il n'y ait aucun signe d'arrachement des grains pendant le polissage pouvant être confondu avec des pores authentiques.</p>

Sommaire
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  • Avant-propos
    3
  • 1 Domaine d'application
    4
  • 2 Références normatives
    4
  • 3 Termes et définitions
    5
  • 4 Appareillage
    5
  • 4.1 Matériel de coupe
    5
  • 4.2 Matériel de montage
    5
  • 4.3 Matériel de rectification et de polissage
    5
  • 4.4 Microscope
    5
  • 4.5 Grille transparente
    5
  • 5 Préparation de l'éprouvette
    6
  • 5.1 Échantillonnage
    6
  • 5.2 Coupe
    6
  • 5.3 Montage
    6
  • 5.4 Rectification et polissage
    6
  • 5.5 Décapage
    6
  • 6 Photomicrographie
    7
  • 6.1 Aspects généraux
    7
  • 6.2 Contrôle
    7
  • 6.3 Nombre de microphotographies
    7
  • 6.4 Microscope optique
    7
  • 6.5 Microscopie électronique à balayage (MEB)
    7
  • 7 Mesurage des microphotographies
    8
  • 8 Calcul des résultats
    8
  • 9 Interférences et incertitudes
    9
  • 10 Rapport d'essai
    9
  • Annexe A (informative) Modes opératoires de rectification et de polissage
    11
  • Annexe B (informative) Modes opératoires de décapage
    13
  • Annexe C (informative) Utilisation d'une analyse d'images automatique (AIA)
    15
  • C.1 Contexte
    15
  • C.2 Techniques d'analyse
    15
  • C.3 Exigences des microphotographies
    15
  • C.4 Étalonnage
    15
  • Annexe D (informative) Installation de l'éclairage de Köhler dans un microscope optique
    16
  • D.1 Objet
    16
  • D.2 Définition
    16
  • D.3 Installation de l'éclairage de Köhler
    16
  • Annexe E (informative) Vérification interlaboratoire du mode opératoire
    17
  • Annexe F (informative) Feuille de résultats
    18
  • Bibliographie
    19
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