ISO 18117:2009

Édition corrigée et ré-imprimée le 20090601

Analyse chimique des surfaces - Manipulation des échantillons avant l'analyse

L'ISO 18117:2009 fournit des lignes directrices relatives à la manipulation et aux récipients de stockage des échantillons avant l'analyse chimique des surfaces. Elle est destinée à aider l'utilisateur des services d'analyse des surfaces à comprendre les exigences de manipulation spéciales des techniques d'analyse chimique des surfaces, en particulier les suivantes: la spectroscopie des électrons Auger (AES), la spectroscopie de masse des ions secondaires (SIMS) et la spectroscopie de photoélectrons par rayons X (XPS ou ESCA). Les protocoles présentés peuvent également être appliquée à d'autres techniques d'analyse (TXRF, par exemple) sensibles à la composition des surfaces. Dans certains cas, pour des échantillons spécifiques, des précautions supplémentaires peuvent être requises.

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- les clauses impératives à satisfaire,
- les clauses non indispensables mais utiles à connaitre, telles que les permissions et les recommandations.

L’identification de ces types de clauses repose sur le document « Directives ISO/IEC, Partie 2 - Principes et règles de structure et de rédaction des documents ISO » ainsi que sur une liste de formes verbales constamment enrichie.

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