DIN EN 60749-23

juillet 2011

Norme En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d.essais mécaniques et climatiques - Partie 23: Durée de vie en fonctionnemement à haute température (IEC 60749-23:2004 + A1:2011) - Version allemande EN 60749-23:2004 + A1:2011 / Attention: DIN EN 60749-23 (2004-10) reste valable avec la présente norme jusqu'à 2014-03-03.

Informations générales

Collections

Normes allemandes DIN

Date de publication

juillet 2011

Nombre de pages

11 p.

Référence

DIN EN 60749-23

Codes ICS

31.080.01 Dispositifs à semi-conducteurs en général

Numéro de tirage

Normes remplacées (1)

DIN EN 60749-23

octobre 2004

Norme Annulée

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température (IEC 60749-23:2004) - Version allemande EN 60749-23:2004

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