IEC 60191-6-21:2010
Collections
Normes internationales IEC
Date de publication
août 2010
Nombre de pages
28 p.
Référence
IEC 60191-6-21:2010
IEC 60191-6-21:2010
août 2010
Norme internationale
En vigueur
Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducters - Partie 6-21: Règles générales pour la préparation des dessins d'encombrement des boîtiers pour dispositifs à semiconducteurs pour montage en surface - Méthodes de mesure pour les dimensions des boîtiers de faible encombrement (SOP)
La CEI 60191-6-21:2010 spécifie les méthodes destinées à mesurer les dimensions des boîtiers de faible encombrement SOP, l'encombrement des boîtiers de forme E conformément à la CEI 60191-4.
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Résumé
Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducters - Partie 6-21: Règles générales pour la préparation des dessins d'encombrement des boîtiers pour dispositifs à semiconducteurs pour montage en surface - Méthodes de mesure pour les dimensions des boîtiers de faible encombrement (SOP)
La CEI 60191-6-21:2010 spécifie les méthodes destinées à mesurer les dimensions des boîtiers de faible encombrement SOP, l'encombrement des boîtiers de forme E conformément à la CEI 60191-4.
La CEI 60191-6-21:2010 spécifie les méthodes destinées à mesurer les dimensions des boîtiers de faible encombrement SOP, l'encombrement des boîtiers de forme E conformément à la CEI 60191-4.
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