IEC 60749-13:2002

IEC 60749-13:2002

avril 2002
Norme internationale Annulée

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : Atmosphère saline

Décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déter-miner la résistance des dispositifs à semiconducteurs à la corrosion. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime. L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

avril 2002

Nombre de pages

9 p.

Référence

IEC 60749-13:2002

Numéro de tirage

1 - 13/06/2005
Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : Atmosphère saline

Décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déter-miner la résistance des dispositifs à semiconducteurs à la corrosion. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime. L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Norme remplacée par (1)
IEC 60749-13:2018
février 2018
Norme internationale En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphère saline

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