IEC 60749-31:2002
Collections
Normes internationales IEC
Date de publication
août 2002
Nombre de pages
9 p.
Référence
IEC 60749-31:2002
IEC 60749-31:2002
août 2002
Norme internationale
En vigueur
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 31: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation)
Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), cet essai détermine si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
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Résumé
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 31: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation)
Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), cet essai détermine si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), cet essai détermine si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
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