IEC 60749-8:2002/COR2:2003

août 2003

Norme internationale En vigueur

Corrigendum 2 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité

Modification de la date de validité : fixée maintenant à 2007.

Informations générales

Collections

Normes internationales IEC

Date de publication

août 2003

Nombre de pages

0 p.

Référence

IEC 60749-8:2002/COR2:2003

Numéro de tirage

1 - 13/06/2005

Résumé

Corrigendum 2 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité

Modification de la date de validité : fixée maintenant à 2007.

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