IEC 61124:2012
Collections
Normes internationales IEC
Date de publication
mai 2012
Nombre de pages
248 p.
Référence
IEC 61124:2012
IEC 61124:2012
mai 2012
Norme internationale
Annulée
Essais de fiabilité - Plan d'essais de conformité d'un taux de défaillance constant et d'une intensité de défaillance constante
La CEI 61124:2012 fournit un certain nombre de plans d'essais optimisés, les courbes OC associées et les valeurs moyennes des temps d'essais. De plus, les algorithmes pour la conception de plans d'essais à l'aide d'un tableur électronique sont également fournis avec des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais. La présente norme spécifie les méthodes utilisées pour vérifier qu'une valeur observée: d'un taux de défaillance, d'une intensité de défaillance, d'une durée moyenne de fonctionnement avant défaillance (MTTF), moyenne des temps de bon fonctionnement (MTBF). Les modifications techniques majeures par rapport à l'édition précédente sont les suivantes:- de nouveaux plans d'essais sont ajoutés, basés sur la Norme russe GOST R 27.402 [1], et son objectif est d'être cohérent avec la nouvelle édition de MIL-HDBK-781 [2]. Elle comprend les algorithmes pour l'optimisation des plans d'essais en utilisant un tableur électronique, ainsi qu'une liste de plan d'essais. En outre l'accent est mis sur le fait qu'il convient de réitérer l'essai à la suite des modifications de conception;- Les écarts dans les plans d'essais A, B et les Annexes A et B qui provenaient de la CEI 60605-7 [3], (retirée) ont été corrigés et ces plans sont donc différents de ceux donnés dans les précedentes éditions de la CEI 61124. Comme demandé par les Comités nationaux, les informations concernant la base mathématique et le tableur électronique ont été déplacées aux annexes informatives. De plus, les listes de symboles ont été divisées, pour obtenir des listes de symboles séparées dans certaines annexes.- Des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais ont été ajoutées de même que sur la manière d'utiliser les tableurs électroniques pour les créer. Les plans d'essais A.1 à A.9 et B.1 à B.13 ont été corrigés;- Les paragraphes 8.1, 8.2, 8.3, l'Article 9 et l'Annexe C, les Articles G.2, I.2, I.3 et l'Annexe J ne changent pas, sauf pour la terminologie et les références mises à jour. Le contenu du corrigendum de janvier 2013 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Informations générales
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Résumé
Essais de fiabilité - Plan d'essais de conformité d'un taux de défaillance constant et d'une intensité de défaillance constante
La CEI 61124:2012 fournit un certain nombre de plans d'essais optimisés, les courbes OC associées et les valeurs moyennes des temps d'essais. De plus, les algorithmes pour la conception de plans d'essais à l'aide d'un tableur électronique sont également fournis avec des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais. La présente norme spécifie les méthodes utilisées pour vérifier qu'une valeur observée: d'un taux de défaillance, d'une intensité de défaillance, d'une durée moyenne de fonctionnement avant défaillance (MTTF), moyenne des temps de bon fonctionnement (MTBF). Les modifications techniques majeures par rapport à l'édition précédente sont les suivantes:
- de nouveaux plans d'essais sont ajoutés, basés sur la Norme russe GOST R 27.402 [1], et son objectif est d'être cohérent avec la nouvelle édition de MIL-HDBK-781 [2]. Elle comprend les algorithmes pour l'optimisation des plans d'essais en utilisant un tableur électronique, ainsi qu'une liste de plan d'essais. En outre l'accent est mis sur le fait qu'il convient de réitérer l'essai à la suite des modifications de conception;
- Les écarts dans les plans d'essais A, B et les Annexes A et B qui provenaient de la CEI 60605-7 [3], (retirée) ont été corrigés et ces plans sont donc différents de ceux donnés dans les précedentes éditions de la CEI 61124. Comme demandé par les Comités nationaux, les informations concernant la base mathématique et le tableur électronique ont été déplacées aux annexes informatives. De plus, les listes de symboles ont été divisées, pour obtenir des listes de symboles séparées dans certaines annexes.
- Des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais ont été ajoutées de même que sur la manière d'utiliser les tableurs électroniques pour les créer. Les plans d'essais A.1 à A.9 et B.1 à B.13 ont été corrigés;
- Les paragraphes 8.1, 8.2, 8.3, l'Article 9 et l'Annexe C, les Articles G.2, I.2, I.3 et l'Annexe J ne changent pas, sauf pour la terminologie et les références mises à jour. Le contenu du corrigendum de janvier 2013 a été pris en considération dans cet exemplaire.
La CEI 61124:2012 fournit un certain nombre de plans d'essais optimisés, les courbes OC associées et les valeurs moyennes des temps d'essais. De plus, les algorithmes pour la conception de plans d'essais à l'aide d'un tableur électronique sont également fournis avec des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais. La présente norme spécifie les méthodes utilisées pour vérifier qu'une valeur observée: d'un taux de défaillance, d'une intensité de défaillance, d'une durée moyenne de fonctionnement avant défaillance (MTTF), moyenne des temps de bon fonctionnement (MTBF). Les modifications techniques majeures par rapport à l'édition précédente sont les suivantes:
- de nouveaux plans d'essais sont ajoutés, basés sur la Norme russe GOST R 27.402 [1], et son objectif est d'être cohérent avec la nouvelle édition de MIL-HDBK-781 [2]. Elle comprend les algorithmes pour l'optimisation des plans d'essais en utilisant un tableur électronique, ainsi qu'une liste de plan d'essais. En outre l'accent est mis sur le fait qu'il convient de réitérer l'essai à la suite des modifications de conception;
- Les écarts dans les plans d'essais A, B et les Annexes A et B qui provenaient de la CEI 60605-7 [3], (retirée) ont été corrigés et ces plans sont donc différents de ceux donnés dans les précedentes éditions de la CEI 61124. Comme demandé par les Comités nationaux, les informations concernant la base mathématique et le tableur électronique ont été déplacées aux annexes informatives. De plus, les listes de symboles ont été divisées, pour obtenir des listes de symboles séparées dans certaines annexes.
- Des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais ont été ajoutées de même que sur la manière d'utiliser les tableurs électroniques pour les créer. Les plans d'essais A.1 à A.9 et B.1 à B.13 ont été corrigés;
- Les paragraphes 8.1, 8.2, 8.3, l'Article 9 et l'Annexe C, les Articles G.2, I.2, I.3 et l'Annexe J ne changent pas, sauf pour la terminologie et les références mises à jour. Le contenu du corrigendum de janvier 2013 a été pris en considération dans cet exemplaire.
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Normes remplacées
(1)
IEC 61124:2006
mars 2006
Norme internationale
Annulée
Essais de fiabilité - Plan d'essais de conformité d'un taux de défaillance constant et d'une intensité de défaillance constante
La présente Norme internationale fournit un certain nombre de plans d'essais optimisés, les courbes d'efficacité associées et les valeurs moyennes des temps d'essais. De plus, les algorithmes pour la conception de plans d'essais à l'aide d'un tableur électronique sont également fournis avec des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais. La présente norme ne couvre pas les lignes directrices sur la manière de planifier, réaliser, analyser et faire un rapport sur un essai. Ces informations sont données dans la CEI 60300-3-5. La présente norme ne couvre pas les conditions d'essais. Ces informations sont données dans la CEI 60605-2 et la CEI 60605, Parties 3-1 à 3-6.
Norme remplacée par
(1)
IEC 61124:2023
février 2023
Norme internationale
En vigueur
Essais de fiabilité - Plans d'essai de conformité pour un taux de défaillance constant et une intensité de défaillance constante
L'IEC 61124:2023 spécifie un certain nombre de plans d?essai optimisés, ainsi que les limites et caractéristiques correspondantes. De plus, les algorithmes pour concevoir des plans d?essai à l?aide d?une feuille de calcul sont également fournis, avec des recommandations relatives au choix de ces plans. Le présent document spécifie les procédures utilisées pour vérifier qu?une valeur observée: d?un taux de défaillance; d?une intensité de défaillance; d?un temps moyen de fonctionnement avant défaillance (MTTF); d?un temps moyen de fonctionnement entre défaillances (MTBF). est conforme à une exigence donnée. Il est présumé, sauf spécification contraire, que pendant le temps d?essai cumulé, les temps de fonctionnement avant défaillance ou les temps de fonctionnement entre défaillances sont indépendants et suivent une distribution identique et exponentielle. Cette hypothèse implique que le taux de défaillance ou l?intensité de défaillance est présumé constant.
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