IEC 61788-16:2013
Supraconductivité - Partie 16: Mesures de caractéristiques électroniques - Résistance de surface des supraconducteurs aux hyperfréquences en fonction de la puissance
La CEI 61788-16:2013 décrit la méthode de mesure normale de la résistance de surface des supraconducteurs aux hyperfréquences en fonction de la puissance par la méthode du résonateur au saphir. La grandeur de mesure est la dépendance en fonction de la puissance de Rs à la fréquence de résonance. Cette méthode est applicable à des fréquences de l'ordre de 10 GHz pour une puissance d'entrée inférieure à 37 dBm (5 W). Il s'agit de consigner dans un rapport les données de résistance de surface à la fréquence mesurée et celles qui sont ramenées à une échelle de 10 GHz. Mot clé: supraconductivité
La CEI 61788-16:2013 décrit la méthode de mesure normale de la résistance de surface des supraconducteurs aux hyperfréquences en fonction de la puissance par la méthode du résonateur au saphir. La grandeur de mesure est la dépendance en fonction de la puissance de Rs à la fréquence de résonance. Cette méthode est applicable à des fréquences de l'ordre de 10 GHz pour une puissance d'entrée inférieure à 37 dBm (5 W). Il s'agit de consigner dans un rapport les données de résistance de surface à la fréquence mesurée et celles qui sont ramenées à une échelle de 10 GHz. Mot clé: supraconductivité
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