IEC 61788-17:2013
Collections
Normes internationales IEC
Date de publication
janvier 2013
Nombre de pages
93 p.
Référence
IEC 61788-17:2013
IEC 61788-17:2013
janvier 2013
Norme internationale
Annulée
Supraconductivité - Partie 17: Mesures de caractéristiques électroniques - Densité de courant critique local et sa distribution dans les films supraconducteurs de grande surface
La CEI 61788-17:2013 décrit les mesures de la densité de courant critique local (Jc) et sa distribution dans les films supraconducteurs à haute température (HTS) de grande surface par une méthode inductive utilisant les tensions de troisième harmonique. La considération la plus importante pour effectuer des mesures précises consiste à déterminer Jc aux températures de l'azote liquide au moyen d'un critère de champ électrique et obtenir des caractéristiques courant-tension d'après sa dépendance vis-à-vis de la fréquence. Bien qu'il soit possible de mesurer Jc dans des champs magnétiques en courant continu appliqués, le domaine d'application de la présente norme est limité à la mesure sans champ magnétique en courant continu. Cette technique mesure de façon intrinsèque le courant de feuille critique, qui est le produit de Jc par l'épaisseur d du film. La plage et la résolution de mesure pour Jcd des films HTS est de 200 A/m à 32 kA/m avec une résolution de mesure de 100 A/m.
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Résumé
Supraconductivité - Partie 17: Mesures de caractéristiques électroniques - Densité de courant critique local et sa distribution dans les films supraconducteurs de grande surface
La CEI 61788-17:2013 décrit les mesures de la densité de courant critique local (Jc) et sa distribution dans les films supraconducteurs à haute température (HTS) de grande surface par une méthode inductive utilisant les tensions de troisième harmonique. La considération la plus importante pour effectuer des mesures précises consiste à déterminer Jc aux températures de l'azote liquide au moyen d'un critère de champ électrique et obtenir des caractéristiques courant-tension d'après sa dépendance vis-à-vis de la fréquence. Bien qu'il soit possible de mesurer Jc dans des champs magnétiques en courant continu appliqués, le domaine d'application de la présente norme est limité à la mesure sans champ magnétique en courant continu. Cette technique mesure de façon intrinsèque le courant de feuille critique, qui est le produit de Jc par l'épaisseur d du film. La plage et la résolution de mesure pour Jcd des films HTS est de 200 A/m à 32 kA/m avec une résolution de mesure de 100 A/m.
La CEI 61788-17:2013 décrit les mesures de la densité de courant critique local (Jc) et sa distribution dans les films supraconducteurs à haute température (HTS) de grande surface par une méthode inductive utilisant les tensions de troisième harmonique. La considération la plus importante pour effectuer des mesures précises consiste à déterminer Jc aux températures de l'azote liquide au moyen d'un critère de champ électrique et obtenir des caractéristiques courant-tension d'après sa dépendance vis-à-vis de la fréquence. Bien qu'il soit possible de mesurer Jc dans des champs magnétiques en courant continu appliqués, le domaine d'application de la présente norme est limité à la mesure sans champ magnétique en courant continu. Cette technique mesure de façon intrinsèque le courant de feuille critique, qui est le produit de Jc par l'épaisseur d du film. La plage et la résolution de mesure pour Jcd des films HTS est de 200 A/m à 32 kA/m avec une résolution de mesure de 100 A/m.
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Norme remplacée par
(1)
IEC 61788-17:2021
avril 2021
Norme internationale
En vigueur
Supraconductivité - Partie 17: Mesurages de caractéristiques électroniques - Densité de courant critique local et sa distribution dans les films supraconducteurs de grande surface
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