IEC 61788-26:2020
Collections
Normes internationales IEC
Date de publication
juin 2020
Nombre de pages
54 p.
Référence
IEC 61788-26:2020
IEC 61788-26:2020
juin 2020
Norme internationale
En vigueur
Supraconductivité - Partie 26: Mesurage du courant critique - Courant critique continu des composites supraconducteurs de RE-Ba-Cu-O
L?IEC 61788-26:2020 spécifie une méthode d'essai pour la détermination du courant critique continu des échantillons de composites supraconducteurs RE (terre rare)-Ba-Cu-O (REBCO) courts en forme de ruban plat et rectiligne. Le présent document s'applique aux échantillons d?essai d'une longueur inférieure à 300 mm et d'une superficie de section rectangulaire de 0,03 mm2 à 7,2 mm2, ce qui correspond aux rubans d?une largeur de 1,0 mm à 12,0 mm et d?une épaisseur de 0,03 mm à 0,6 mm.Cette méthode est destinée à être utilisée avec des échantillons de supraconducteurs caractérisés par un courant critique inférieur à 300 A et des valeurs n supérieures à 5 dans les conditions d?essai normalisées: l?échantillon d?essai est immergé dans un bain d?azote liquide à pression ambiante sans champ magnétique externe pendant l?essai. Le présent document spécifie les écarts par rapport à cette méthode d?essai qui sont admis dans les essais individuels de série, ainsi que d'autres restrictions spécifiques.
Informations générales
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Résumé
Supraconductivité - Partie 26: Mesurage du courant critique - Courant critique continu des composites supraconducteurs de RE-Ba-Cu-O
L?IEC 61788-26:2020 spécifie une méthode d'essai pour la détermination du courant critique continu des échantillons de composites supraconducteurs RE (terre rare)-Ba-Cu-O (REBCO) courts en forme de ruban plat et rectiligne. Le présent document s'applique aux échantillons d?essai d'une longueur inférieure à 300 mm et d'une superficie de section rectangulaire de 0,03 mm2 à 7,2 mm2, ce qui correspond aux rubans d?une largeur de 1,0 mm à 12,0 mm et d?une épaisseur de 0,03 mm à 0,6 mm.
Cette méthode est destinée à être utilisée avec des échantillons de supraconducteurs caractérisés par un courant critique inférieur à 300 A et des valeurs n supérieures à 5 dans les conditions d?essai normalisées: l?échantillon d?essai est immergé dans un bain d?azote liquide à pression ambiante sans champ magnétique externe pendant l?essai. Le présent document spécifie les écarts par rapport à cette méthode d?essai qui sont admis dans les essais individuels de série, ainsi que d'autres restrictions spécifiques.
L?IEC 61788-26:2020 spécifie une méthode d'essai pour la détermination du courant critique continu des échantillons de composites supraconducteurs RE (terre rare)-Ba-Cu-O (REBCO) courts en forme de ruban plat et rectiligne. Le présent document s'applique aux échantillons d?essai d'une longueur inférieure à 300 mm et d'une superficie de section rectangulaire de 0,03 mm2 à 7,2 mm2, ce qui correspond aux rubans d?une largeur de 1,0 mm à 12,0 mm et d?une épaisseur de 0,03 mm à 0,6 mm.
Cette méthode est destinée à être utilisée avec des échantillons de supraconducteurs caractérisés par un courant critique inférieur à 300 A et des valeurs n supérieures à 5 dans les conditions d?essai normalisées: l?échantillon d?essai est immergé dans un bain d?azote liquide à pression ambiante sans champ magnétique externe pendant l?essai. Le présent document spécifie les écarts par rapport à cette méthode d?essai qui sont admis dans les essais individuels de série, ainsi que d'autres restrictions spécifiques.
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