IEC 61967-8:2011
Collections
Normes internationales IEC
Date de publication
août 2011
Nombre de pages
34 p.
Référence
IEC 61967-8:2011
IEC 61967-8:2011
août 2011
Norme internationale
Annulée
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI
La CEI 61967-8:2011 définit une méthode en vue de mesurer l'émission électromagnétique rayonnée d'un circuit intégré (CI) utilisant une ligne TEM à plaques (stripline) pour CI dans la plage de fréquences comprise entre 150 kHz et 3 GHz. Le CI évalué est monté sur une carte d'essai CEM (CCI, Carte de Circuit Imprimé) entre le conducteur actif et le plan de masse de l'agencement de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI.Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 61967-1:2002.
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Résumé
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI
La CEI 61967-8:2011 définit une méthode en vue de mesurer l'émission électromagnétique rayonnée d'un circuit intégré (CI) utilisant une ligne TEM à plaques (stripline) pour CI dans la plage de fréquences comprise entre 150 kHz et 3 GHz. Le CI évalué est monté sur une carte d'essai CEM (CCI, Carte de Circuit Imprimé) entre le conducteur actif et le plan de masse de l'agencement de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI.
Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 61967-1:2002.
La CEI 61967-8:2011 définit une méthode en vue de mesurer l'émission électromagnétique rayonnée d'un circuit intégré (CI) utilisant une ligne TEM à plaques (stripline) pour CI dans la plage de fréquences comprise entre 150 kHz et 3 GHz. Le CI évalué est monté sur une carte d'essai CEM (CCI, Carte de Circuit Imprimé) entre le conducteur actif et le plan de masse de l'agencement de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI.
Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 61967-1:2002.
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Norme remplacée par
(1)
IEC 61967-8:2023
mai 2023
Norme internationale
En vigueur
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour circuit intégré
L?IEC 61967-8:2023 définit une méthode de mesure des émissions électromagnétiques rayonnées d?un circuit intégré (CI) à l?aide d?une ligne TEM à plaques (stripline) pour circuit intégré. Le CI à évaluer est monté sur une carte d?essai CEM (carte à circuit imprimé) entre le conducteur actif et le plan de masse du dispositif de la stripline pour CI. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l?édition précédente: a) la plage de fréquences de 150 kHz à 3 GHz a été retirée du domaine d?application; b) la fréquence utile supérieure est étendue à 6 GHz ou plus dans la mesure où les exigences définies sont remplies.
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