IEC 62047-11:2013

juillet 2013

Norme internationale En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 11 : méthode d'essai pour les coefficients de dilatation thermique linéaire des matériaux autonomes pour systèmes microélectromécaniques

Informations générales

Normes internationales IEC

juillet 2013

42 p.

IEC 62047-11:2013

31.080.99 Autres dispositifs à semi-conducteurs

1 - 28/08/2013

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