IEC 62132-5:2005
Collections
Normes internationales IEC
Date de publication
octobre 2005
Nombre de pages
45 p.
Référence
IEC 62132-5:2005
Cette procédure de mesure décrit une méthode de mesure pour quantifier l'immunité RF des circuits intégrés (CI) montés sur une carte d'essai normalisée ou dans leur application finale de carte d'essai (PCB), aux perturbations électromagnétiques conductrices.
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