IEEE 1838

janvier 2019

Norme En vigueur

IEEE Standard for Test Access Architecture for Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits / Note: Approved 2019-11-07 IEEEE

Informations générales

Normes américaines IEEE

janvier 2019

73 p.

IEEE 1838

31.200 Circuits intégrés. Micro-électronique

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