Le présent document traite des défauts géométriques pouvant être présents sur les surfaces des mesures matérialisées et des échantillons d'étalonnage conformes à l'ISO 5436-1 et à l'ISO 25178-70 et définit les termes désignant les manières de répondre à ces défauts. Le présent document est applicable comme suit: a) pour aider les clients et les utilisateurs de mesures matérialisées en métrologie de surface à spécifier leurs éléments nominaux (propriétés géométriques idéales) en cas d'obtention de ces mesures auprès des fabricants et des fournisseurs; b) pour permettre aux utilisateurs de mesures matérialisées de formuler leurs propres règles et politiques pour répondre à l'occurrence de défauts de manière à réduire le plus possible l'incertitude de leurs propres mesurages; NOTE Ces politiques sont par exemple requises dans l'ISO/IEC 17025:2017, 7.2.1.1, 7.2.1.3, 7.3.1 et 7.8.5 c) et d). c) pour permettre aux laboratoires d'étalonnage et à leurs clients de convenir d'une politique commune sur la manière de traiter les défauts présents sur une mesure matérialisée ayant été envoyée en vue d'être étalonnée; d) pour former les utilisateurs de mesures matérialisées à la signification et à l'importance variable des différents types de défauts; e) pour les autres normes GPS qui font référence à la question du choix des emplacements de mesure ou du choix des zones à mesurer ou des zones à éviter lors du mesurage.
Le présent document traite des défauts géométriques pouvant être présents sur les surfaces des mesures matérialisées et des échantillons d'étalonnage conformes à l'ISO 5436-1 et à l'ISO 25178-70 et définit les termes désignant les manières de répondre à ces défauts.
Le présent document est applicable comme suit:
a) pour aider les clients et les utilisateurs de mesures matérialisées en métrologie de surface à spécifier leurs éléments nominaux (propriétés géométriques idéales) en cas d'obtention de ces mesures auprès des fabricants et des fournisseurs;
b) pour permettre aux utilisateurs de mesures matérialisées de formuler leurs propres règles et politiques pour répondre à l'occurrence de défauts de manière à réduire le plus possible l'incertitude de leurs propres mesurages;
NOTE Ces politiques sont par exemple requises dans l'ISO/IEC 17025:2017, 7.2.1.1, 7.2.1.3, 7.3.1 et 7.8.5 c) et d).
c) pour permettre aux laboratoires d'étalonnage et à leurs clients de convenir d'une politique commune sur la manière de traiter les défauts présents sur une mesure matérialisée ayant été envoyée en vue d'être étalonnée;
d) pour former les utilisateurs de mesures matérialisées à la signification et à l'importance variable des différents types de défauts;
e) pour les autres normes GPS qui font référence à la question du choix des emplacements de mesure ou du choix des zones à mesurer ou des zones à éviter lors du mesurage.
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