JIS C 5003

juillet 1974

Norme En vigueur

General test procedure of failure rate for electronic components / Note: Approved 2019-10-21 JIS, 2014-10-20 JIS, 2009-10-01 JIS, 2004-03-20 JIS, 1993-02-01 JIS, 1988-01-01 JIS, 1982-11-01 JIS, 1977-07-01 JIS

Informations générales

Normes japonaises JIS

juillet 1974

13 p.

JIS C 5003

31.020 Composants électroniques en général

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