NF EN 1071-1

NF EN 1071-1

décembre 2003
Norme Annulée

Céramiques techniques avancées - Méthodes d'essai pour revêtements céramiques - Partie 1 : détermination de l'épaisseur du revêtement par profilomètre à contact

La présente partie de cette Norme européenne spécifie une méthode permettant de déterminer l'épaisseur de revêtements céramiques par mesurage de la hauteur de décrochement à l'aide d'un profilomètre à contact.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

décembre 2003

Nombre de pages

13 p.

Référence

NF EN 1071-1

Codes ICS

25.220.99   Autres traitements et revêtements de surface
81.060.30   Céramiques techniques avancées

Indice de classement

A92-801-1

Numéro de tirage

1 - 26/11/2003

Parenté européenne

EN 1071-1:2003
Résumé
Céramiques techniques avancées - Méthodes d'essai pour revêtements céramiques - Partie 1 : détermination de l'épaisseur du revêtement par profilomètre à contact

La présente partie de cette Norme européenne spécifie une méthode permettant de déterminer l'épaisseur de revêtements céramiques par mesurage de la hauteur de décrochement à l'aide d'un profilomètre à contact.
Normes remplacées (1)
A92-801-1
décembre 1993
Norme Annulée
Céramiques techniques avancées - Méthodes d'essai pour revêtements céramiques - Partie 1 : détermination de l'épaisseur du revêtement par profilomètre à contact.

Le présent document décrit une méthode de détermination de l'épaisseur de revêtements céramiques par mesurage de la hauteur de décrochement avec un profilomètre à contact.

Norme remplacée par (1)
A92-801-1
décembre 1993
Norme Annulée
Céramiques techniques avancées - Méthodes d'essai pour revêtements céramiques - Partie 1 : détermination de l'épaisseur du revêtement par profilomètre à contact.

Le présent document décrit une méthode de détermination de l'épaisseur de revêtements céramiques par mesurage de la hauteur de décrochement avec un profilomètre à contact.

Sommaire
  • Avant-propos
    3
  • 1 Domaine d'application
    4
  • 2 Références normatives
    4
  • 3 Principe
    4
  • 4 Appareillage
    4
  • 5 Échantillonnage et préparation des éprouvettes
    5
  • 6 Mode opératoire
    5
  • 7 Limites par rapport à la hauteur de décrochement
    5
  • 8 Répétabilité
    6
  • 9 Rapport d'essai
    6
  • Annexe A (informative) Effets du facteur d'amplification et de l'erreur de nivelage sur l'épaisseur d'une couche mesurée
    8
  • Bibliographie
    11
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