NF EN 61000-4-20

NF EN 61000-4-20

août 2003
Norme Annulée

Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-20 : techniques d'essai et de mesure - Essais d'émission et d'immunité dans des guides d'onde TEM

Le présent document concerne les méthodes d'essai d'émission et d'immunité pour les équipements électriques et électroniques utilisant différents types de guides d'onde transverse électromagnétique (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d'impulsion électromagnétique), et des structures fermées (par exemple des cellules TEM), qui peuvent être elles-mêmes classées en guides d'onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La gamme de fréquences dépend des exigences d'essai spécifiques et du type spécifique de guide d'onde TEM.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

août 2003

Nombre de pages

68 p.

Référence

NF EN 61000-4-20

Codes ICS

33.100.01   Compatibilité électromagnétique en général

Indice de classement

C91-004-20

Numéro de tirage

1 - 05/09/2003

Parenté internationale

IEC 61000-4-20:2003

Parenté européenne

EN 61000-4-20:2003
Résumé
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-20 : techniques d'essai et de mesure - Essais d'émission et d'immunité dans des guides d'onde TEM

Le présent document concerne les méthodes d'essai d'émission et d'immunité pour les équipements électriques et électroniques utilisant différents types de guides d'onde transverse électromagnétique (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d'impulsion électromagnétique), et des structures fermées (par exemple des cellules TEM), qui peuvent être elles-mêmes classées en guides d'onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La gamme de fréquences dépend des exigences d'essai spécifiques et du type spécifique de guide d'onde TEM.
Norme remplacée par (1)
NF EN 61000-4-20
février 2011
Norme En vigueur
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-20 : techniques d'essai et de mesure - Essais d'émission et d'immunité dans les guides d'onde TEM

Le présent document concerne les méthodes d'essai d'émission et d'immunité pour les matériels électriques et électroniques utilisant différents types de guides d'onde transverses électromagnétiques (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d'impulsion électromagnétique) , et des structures fermées (par exemple des cellules TEM) , qui peuvent être elles-mêmes classées en guides d'onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La gamme de fréquences dépend des exigences d'essai spécifiques et du type spécifique de guide d'onde TEM.

Sommaire
  • AVANT-PROPOS
    2
  • INTRODUCTION
    5
  • 1 Domaine d'application et objet
    6
  • 2 Références normatives
    6
  • 3 Définitions et abréviations
    7
  • 3.1 Définitions
    7
  • 3.2 Abréviations
    10
  • 4 Généralités
    10
  • 5 Exigences concernant les guides d'onde TEM
    11
  • 5.1 Exigences générales pour l'utilisation des guides d'onde TEM
    11
  • 5.2 Exigences spécifiques pour certains types de guides d'onde TEM
    13
  • 5.3 Considérations à propos de l'incertitude de mesure
    14
  • 6 Vue d'ensemble des types d'appareils en essai
    14
  • 6.1 Petit appareil en essai
    14
  • 6.2 Appareil en essai de grande taille
    14
  • Annexe A (normative) Essais d'émission dans les guides d'onde TEM
    15
  • Annexe B (normative) Essais d'immunité dans les guides d'onde TEM
    37
  • Annexe C (normative) Essais de transitoires IEM-HA dans les guides d'onde TEM
    45
  • Annexe D (informative) Caractérisation des guides d'onde TEM
    53
  • Annexe E (informative) Normes contenant des guides d'onde TEM
    60
  • Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes 65
  • Bibliographie
    62
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