NF EN IEC 62969-4

août 2018

Norme En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Interface à semiconducteurs pour les véhicules automobiles - Partie 4 : méthode d'évaluation de l'interface de données destinée aux capteurs de véhicules automobiles

Le présent document spécifie une méthode d'essai par injection directe de défaut pour l'interface à semiconducteurs des capteurs de véhicules automobiles, pouvant être utilisée pour assurer la conformité de l'interface de communication du véhicule.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

août 2018

Nombre de pages

23 p.

Référence

NF EN IEC 62969-4

Codes ICS

31.080.99 Autres dispositifs à semi-conducteurs

Indice de classement

C96-069-4

Numéro de tirage

Parenté internationale

IEC 62969-4:2018

Parenté européenne

EN IEC 62969-4:2018

Résumé

Dispositifs à semiconducteurs - Interface à semiconducteurs pour les véhicules automobiles - Partie 4 : méthode d'évaluation de l'interface de données destinée aux capteurs de véhicules automobiles

Le présent document spécifie une méthode d'essai par injection directe de défaut pour l'interface à semiconducteurs des capteurs de véhicules automobiles, pouvant être utilisée pour assurer la conformité de l'interface de communication du véhicule.

Sommaire

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1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes, définitions et termes abrégés
4 Evaluation et essais
5 Paramètres de l'essai de perturbation
Annexe A (informative) Description détaillée des éléments perturbateurs
Bibliographie

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