NF EN ISO 21920-2

NF EN ISO 21920-2

janvier 2022
Norme En vigueur

Spécification géométrique des produits (GPS) - Etat de surface : méthode du profil - Partie 2 : termes, définitions et paramètres d'état de surface

Le présent document spécifie les termes, définitions et paramètres applicables à la détermination de l’état de surface au moyen de méthodes de profil. NOTE 1        Les principales modifications apportées aux précédents documents sur les profils ISO sont décrites à l'Annexe I. NOTE 2        Une vue d'ensemble des normes de profil et des normes de surface dans le modèle matriciel GPS est donnée à l'Annexe J. NOTE 3        La relation entre le présent document et le modèle de matrice GPS est donnée à l'Annexe K.

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Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

janvier 2022

Nombre de pages

92 p.

Référence

NF EN ISO 21920-2

Codes ICS

01.040.17   Métrologie et mesurage. Phénomènes physiques (Vocabulaires)
17.040.20   Etat de surfaces
17.040.40   Spécification géométrique des produits (GPS)

Indice de classement

E05-016-2

Numéro de tirage

3 - 01/11/2023

Parenté internationale

Parenté européenne

EN ISO 21920-2:2022
Résumé
Spécification géométrique des produits (GPS) - Etat de surface : méthode du profil - Partie 2 : termes, définitions et paramètres d'état de surface

Le présent document spécifie les termes, définitions et paramètres applicables à la détermination de l’état de surface au moyen de méthodes de profil.

NOTE 1        Les principales modifications apportées aux précédents documents sur les profils ISO sont décrites à l'Annexe I.

NOTE 2        Une vue d'ensemble des normes de profil et des normes de surface dans le modèle matriciel GPS est donnée à l'Annexe J.

NOTE 3        La relation entre le présent document et le modèle de matrice GPS est donnée à l'Annexe K.

Normes remplacées (2)
NF EN ISO 4287
décembre 1998
Norme Annulée
Spécification géométrique des produits (GPS) - État de surface : méthode du profil - Termes, définitions et paramètres d'état de surface

Dans la série de normes relatives à la mesure de l'état de surface par la méthode dite du profil, le présent document définit les paramètres du profil primaire, du profil d'ondulation et du profil de rugosité, et fixe la terminologie correspondante.

NF EN ISO 13565-3
février 2002
Norme Annulée
Spécification géométrique des produits (GPS) - État de surface : méthode du profil - Surfaces ayant des propriétés fonctionnelles différentes suivant les niveaux - Partie 3 : caractérisation des hauteurs par la courbe de probabilité de matière

<p> La présente partie de l'ISO 13565 établit le procédé d'évaluation permettant de déterminer les paramètres issus des régions linéaires de la courbe de probabilité de matière, qui constitue la représentation gaussienne de la courbe du taux de longueur portante. Ces paramètres sont destinés à faciliter l'évaluation du comportement tribologique, par exemple de surfaces de glissement lubrifiées, et à maîtriser le procédé de fabrication. </p>

Sommaire
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  • Avant-propos
  • 1 Domaine d'application
  • 2 Références normatives
  • 3 Termes et définitions
  • 4 Paramètres de champ
  • 5 Paramètres des motifs
  • Annexe C (normative) Détermination de la courbe de taux de portance
  • Annexe D (normative) Détermination des paramètres de profil pour des surfaces stratifiées
  • Annexe E (normative) Segmentation par croisement de lignes pour déterminer les éléments de profil
  • Annexe F (normative) Caractérisation de l'élément
  • Annexe A (informative) Détermination de la dérivée première et de la dérivée seconde
  • Annexe B (informative) Détermination de la courbure locale
  • Annexe G (informative) Résumé des paramètres et des fonctions d'état de surface de profil
  • Annexe H (informative) Flux d'analyse de la spécification
  • Annexe I (informative) Modifications par rapport aux anciennes normes ISO de profil
  • Annexe J (informative) Vue d'ensemble des normes de profil et de surface dans le modèle de matrice GPS
  • Annexe K (informative) Relation avec le modèle de matrice GPS
  • Bibliographie
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