Application du nouveau concept d'étalonnage du VIM 3

Application du nouveau concept d'étalonnage du VIM 3

Livre

L'objectif est d'aider les métrologues et les utilisateurs d'instruments de mesure à appréhender la nouvelle définition de l'étalonnage introduite par la 3e édition du Vocabulaire International de Métrologie et de fournir des éléments pour sa mise en oeuvre au sein des laboratoires d'étalonnage. Il constitue une introduction à la compréhension de la modélisation des résultats d'un étalonnage. Une méthodologie pour le choix d'une méthode de modélisation est proposée en fonction des informations disponibles ainsi que les livrables attendus dans un certificat d'étalonnage selon cette nouvelle définition. Ce guide est illustré par des exemples pour mieux comprendre les méthodes et méthodologies décrites ainsi que les implications concrètes dans les processus d'étalonnage. Enfin, il faut noter qu'un logiciel de modélisation des résultats d'étalonnage intitulé M-CARE a été développé sur cette base. Réalisé avec le support de la Direction Générale de la Compétitivité, de l'Industrie et des Services, il est disponible gratuitement sur le site du Collège Français de Métrologie. Ce guide a été rédigé par un groupe de travail du Collège Français de Métrologie (CFM). Déjà publié par le CFM, il est aujourd'hui réédité par le CFM et AFNOR Éditions dans le cadre de la collection "Les Guides Techniques du Collège Français de Métrologie".

Informations générales

Collections

Collège Français de Métrologie

Auteur(s)

CFM (Collège Français de Métrologie)

Date de parution

mai 2017

Nombre de pages

106 p.

ISBN

978-2-12-465606-6

Référence

3465606

Codes ICS

17.020   Métrologie et mesurage en général
Résumé


L'objectif est d'aider les métrologues et les utilisateurs d'instruments de mesure à appréhender la nouvelle définition de l'étalonnage introduite par la 3e édition du Vocabulaire International de Métrologie et de fournir des éléments pour sa mise en oeuvre au sein des laboratoires d'étalonnage. Il constitue une introduction à la compréhension de la modélisation des résultats d'un étalonnage. Une méthodologie pour le choix d'une méthode de modélisation est proposée en fonction des informations disponibles ainsi que les livrables attendus dans un certificat d'étalonnage selon cette nouvelle définition. Ce guide est illustré par des exemples pour mieux comprendre les méthodes et méthodologies décrites ainsi que les implications concrètes dans les processus d'étalonnage. Enfin, il faut noter qu'un logiciel de modélisation des résultats d'étalonnage intitulé M-CARE a été développé sur cette base. Réalisé avec le support de la Direction Générale de la Compétitivité, de l'Industrie et des Services, il est disponible gratuitement sur le site du Collège Français de Métrologie. Ce guide a été rédigé par un groupe de travail du Collège Français de Métrologie (CFM). Déjà publié par le CFM, il est aujourd'hui réédité par le CFM et AFNOR Éditions dans le cadre de la collection "Les Guides Techniques du Collège Français de Métrologie".
Sommaire
  • 1. INTRODUCTION - LE PROCESSUS D'ÉTALONNAGE ET DE MESURE
    1
  • 1.1. La nouvelle définition de l'étalonnage
    1
  • 1.2. La mise en place d'un modèle
    4
  • 2. CONSTRUIRE ET EXPLOITER UN MODÈLE D'ÉTALONNAGE
    9
  • 2.1. Qu'est-ce qu'un modèle probabiliste ?
    10
  • 2.2. Sens du modèle
    13
  • 3. SPÉCIFIER ET VALIDER UN MODÈLE D'ÉTALONNAGE
    19
  • 3.1. Trouver une "bonne" estimation des paramètres d'un modèle
    19
  • 3.2. Valider le modèle
    37
  • 3.3. Analyse des résidus et test du chi-deux
    37
  • 4. CONCLUSION : PROPOSITION DE LIVRABLES D'UN ÉTALONNAGE
    41
  • 5. EXEMPLES
    43
  • 5.1. Exemple 1 : Multimètre
    43
  • 5.2. Exemple 2 : Manomètre
    59
  • 5.3. Exemple 3 : Comparateur électronique
    64
  • 5.4. Exemple 4 : Couple mètre
    71
  • 5.5. Exemple 5 : Thermomètre
    74
  • ANNEXES
    79
  • A - Un peu d'histoire
    79
  • B - LES EFFETS QUI SE MANIFESTENT LORS D'UNE OPÉRATION D'ÉTALONNAGE
    81
  • C - QUELQUES ÉLÉMENTS SUR LA MÉTHODE DU MAXIMUM DE VRAISEMBLANCE
    84
  • D - QUELQUES ÉLÉMENTS SUR L'APPROCHE BAYÉSIENNE
    86
  • E - MODÈLE D'ÉTALONNAGE LINÉAIRE DIRECT À ÉTALONS INDÉPENDANTS
    89
  • F - CLASSE D'ESTIMATEURS DES PARAMÈTRES D'UNE FONCTION AFFINE
    90
  • G - QUELQUES EXPLICATIONS SUR LES PHÉNOMÈNES DE BIAIS DANS LE CAS DES FONCTIONS NON-LINÉAIRES
    93